2022年集成電路測試技術研討會

會議簡介

集成電路產(chǎn)業(yè)作為電子信息產(chǎn)業(yè)的基礎和核心，是國民經(jīng)濟和國防的重要支柱與戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè)。無線通信、人工智能、汽車電子、新型傳感器、新型顯示驅(qū)動著集成電路的設計水平不斷提升，同時對集成電路測試帶來更大的挑戰(zhàn)。近年來，可測性設計、大規(guī)模SOC設計以及2.5D、3D封裝等技術的飛速發(fā)展，對測試開發(fā)技術以及ATE技術水平都提出了更高的要求，國外研究機構和以美國泰瑞達、日本愛德萬等為代表的廠家在測試技術研究、人才培養(yǎng)和測試設備研制等方面都取得了較大的進展。

我國集成電路測試技術發(fā)展相比國外起步較晚，并且面臨國外高端技術壟斷的嚴峻挑戰(zhàn)。國內(nèi)集成電路測試技術的發(fā)展以及測試設備嚴重依賴國外公司，測試人才的培養(yǎng)也處于起步階段，自主編寫的教材和專業(yè)課程建設嚴重滯后，不能適應國內(nèi)產(chǎn)業(yè)發(fā)展的需求。為加強集成電路測試技術的研究，培育國內(nèi)集成電路測試產(chǎn)業(yè)，中國儀器儀表學會電子測量與儀器分會和中國電子學會電子測量與儀器分會聯(lián)合主辦第一屆集成電路測試技術研討會，會議針對集成電路測試產(chǎn)業(yè)發(fā)展、相關技術研究和人才培養(yǎng)等展開研討和交流，旨在促進國內(nèi)集成電路測試行業(yè)技術進步，此次研討會將于9月24日～26日在深圳舉辦。本屆論壇將融合專題報告、技術交流、成果展示為一體，關注實際應用中的關鍵技術和解決方案。

會議主題

集成電路測試技術

會議議題

1. 集成電路測試

2. 測試設備設計

3. 可測試性設計

4. ADC/DAC測試

5. 存儲器測試

6. SOC測試